透過葉片測量根系長度的新方法可幫助提高作物產量
一項新技術可能會使選擇性地培育根系更好、更深的作物植物變得更容易。這種非破壞性過程包括快速檢查植物的葉子,以了解其根系深入土壤的程度。
深根植物比淺根植物更耐旱,因為它們的長根能夠進入地下水位,而短根無法進入地下水位。深根植物也更善於吸收氮等養分,而這些養分往往會隨著雨水或灌溉水深入土壤。
還有一個減少溫室氣體排放的好處是,植物的根扎得越深,其捕獲的大氣二氧化碳在土壤中鎖定的時間就越長。這是因為二氧化碳是由葉片吸收並帶入根部的。
基於這些原因和其他原因,作物科學家一直在努力培育根系較深的作物新品種。
目前,檢查根系長度的標準方法是在試驗地裡挖出多株植物,然後用捲尺測量它們的根系。這個過程不僅費時費力,而且在研究後期無法再次測量這些植物的根系,因為它們不會被重新種植。
這就是LEADER 的由來。LEADER是”Leaf Element Accumulation from DEep Root”的縮寫,這種根部測量方法是由賓州州立大學的喬納森-林奇教授及其同事創造的。
這項技術的基礎是,在任何給定的農田裡,不同的礦物質和其他元素存在於土壤的不同深度。當植物的根係向下生長到土壤中時,就會吸收這些元素,並將其帶入葉片。
因此,透過觀察葉片中含有哪些土壤元素,就可以知道根系目前已經向下生長了多遠。當然,你首先需要知道哪些元素位於哪個深度,這可以透過採集和分析有關田地的初始土壤核心樣本來確定。
LEADER 運作示意圖賓州州立大學
在這項研究中,林奇的團隊在全美四個地點種植了30 個不同基因的玉米品系,並在六年時間裡對這些地點的土壤和葉片進行了檢測。葉片分析是在現場使用手持式X 射線螢光分光光度計進行的。對於根系長度在30 公分(1 英尺)或更長的植物,LEADER 的精確度與傳統的根系測量技術不相上下。
儘管如此,在某些試驗地塊中,不同土壤深度的不同天然元素之間可能沒有明確的界限。在這種情況下,可以在種植作物之前,將鍶等”示踪元素”埋入已知深度的土壤中。一旦鍶開始在葉片中出現,作物科學家就會知道根系已經到達了那個深度。
重要的是,雖然研究中使用的是玉米,但LEADER 應該適用於所有類型的植物。
“要培育根系更深的作物,你需要觀察成千上萬株植物。把它們挖出來既費錢又費時,因為有些根系深達兩米或更深,」林奇說。”每個人都想要深根作物–但直到現在,我們還不知道如何獲得它們。”
有關這項研究的論文最近發表在《作物科學》雜誌上。