華為芯片堆疊封裝專利公開:降低矽通孔技術成本用堆疊換性能
從國家知識產權局官網獲悉,華為公開了一種芯片堆疊封裝及終端設備專利,申請公佈號為CN114287057A,可解決因採用矽通孔技術而導致的成本高的問題。專利摘要顯示,該專利涉及半導體技術領域,其能夠在保證供電需求的同時,解決因採用矽通孔技術而導致的成本高的問題。
具體來看,該芯片堆疊封裝(01)包括:
設置於第一走線結構(10)和第二走線結構(20)之間的第一芯片(101)和第二芯片(102);
所述第一芯片(101)的有源面(S1)面向所述第二芯片(102)的有源面(S2);第一芯片(101)的有源面(S1)包括第一交疊區域(A1)和第一非交疊區域(C1),第二芯片(102)的有源面(S2)包括第二交疊區域(A2)和第二非交疊區域(C2);
第一交疊區域(A1)與第二交疊區域(A2)交疊,第一交疊區域(A1)和第二交疊區域(A2)連接;
第一非交疊區域(C1)與第二走線結構(20)連接;
第二非交疊區域(C2)與第一走線結構(10)連接。
在前不久的華為2021年年報發布會上,華為輪值董事長郭平表示,未來華為可能會採用多核結構的芯片設計方案,以提升芯片性能。同時,採用面積換性能,用堆疊換性能,使得不那麼先進的工藝也能持續讓華為在未來的產品裡面,能夠具有競爭力。
值得一提的是,這是華為首次公開確認芯片堆疊技術。也就是說,可以通過增大面積,堆疊的方式來換取更高的性能,實現低工藝製程追趕高性能芯片的競爭力。