如果法醫團隊能夠輕鬆地從留在犯罪現場的子彈殼上提取指紋，那絕對是一件非常好的事情，然而不幸的是，這樣做往往相當困難。 不過現在，諾丁漢大學開發的一項新技術可以改變這種情況。

由於彈殼在槍中時暴露在火藥殘留物、高溫和高壓下，指紋化合物如氨基酸和脂質在彈殼被彈出時往往被蒸發和/或降解。 因此，從剩下的東西中獲取可用的指紋是一種挑戰，而彈殼是圓柱形的這一事實使其更具挑戰性–如果它們是平的，那麼從它們身上提取不變形的指紋就會更加容易。

為了解決這些問題，由James Sharp博士領導的諾丁漢團隊研究了一種被稱為飛行時間二次離子質譜（簡稱ToF-SIMS）的現有技術。

它涉及到將高能量的正離子束聚焦到一個表面上–如一個外殼的外面–在那裡它們釋放出與之碰撞的二次離子。 利用一個被稱為飛行時間分析儀的設備，這些二次離子然後根據它們的品質電荷比相互分離產生一個表明樣品化學成分的光譜。

在這個過程中，彈殼在一個定製設計的平臺上緩慢旋轉，因此它的圓柱形形狀不是一個問題。

在對Webley Mk II左輪手槍發射的子彈的彈殼進行的測試中，該技術能夠揭示出諸如指紋脊和汗孔等細節–這些都是通過常用的氰基丙烯酸酯薰蒸技術無法獲得。 並且重要的是，ToF-SIMS方法不會傷害指紋，使它們完好無損進而可供今後分析。

Sharp說道：「這確實可以為分析證據的新的可靠方法鋪平道路、確定感興趣的人並將他們與槍支中的彈藥聯繫起來。 ”