紫金山天文台揭示銀河系分子氣體厚盤性質
基於大尺度高靈敏度的CO分子譜線巡天數據，中國科學院紫金山天文台銀河畫卷科學團隊對內銀河系近400平方度的分子氣體展開分析。通過對切點附近的分子云進行系統的認證和分析，清晰地描繪了一個分子氣體厚盤的存在，其厚度約280pc。
根據測量，內銀河系分子氣體厚盤的總質量達到8.5×10 7太陽質量，是該區域內銀盤分子氣體總質量的10%左右。
觀測發現，分子厚盤由許多獨立、暗弱、非引力束縛的小尺寸分子云組成。新測量的分子厚盤的標高與此前已知的原子氣體盤的標高相當，盤內分子云的速度彌散與薄盤分子云相當。通過對這些分子云樣本進行分析後發現，雲-雲之間的速度彌散隨著銀心距的增加而係統性地減小。由此認為，分子氣體的分佈受到不同銀心距處恆星形成活動的調製，厚盤的分子氣體可能起源於銀盤，盤面上恆星活動的劇烈物理過程造成分子氣體分佈的脫偶。
相關研究成果發表在ApJ上，銀河系氣體分佈與性質研究團組副研究員蘇揚為論文第一作者。研究工作得到國家重點研發計劃和國家自然科學基金的資助。
背景為銀河系21cm（HI4PI巡天）全天輻射，陰影部分錶示標高為85pc和280pc的已知的分子氣體薄盤和新發現的分子厚盤。銀河畫卷巡天新確認的分子厚盤的厚度與原子氣體盤的厚度相當。分子氣體厚盤成分與原子氣體分佈緊密相關。