科學家揭示了鐵電疲勞的形成機理可為延長電子設備壽命提供理論指導
悉尼大學的一支研究團隊,剛剛獲得了材料科學領域的一項重大發現,為我們首次揭示了“鐵電材料疲勞是如何發生的”事件全貌。SCI Tech Daily指出,這項研究或有助於我們設計出更具耐用性的電子產品。據悉,無論是消費電子產品、還是工業儀器,鐵電材料被普遍應用於包括存儲器、電容器、致動器和傳感器在內的許多設備,比如計算機、醫療超聲設備、以及水下聲吶。
研究配圖- 1:實驗裝置示意圖
尷尬的是,隨著時間的推移,鐵電材料將因受到機械和電氣負載的反复折騰,而導致性能的逐漸衰減,最終引發被稱作“鐵電疲勞”的失效故障。
考慮到鐵電疲勞是各種電子設備出現故障的主要原因、且廢棄電子產品是電子垃圾的主要來源,全球範圍內每年都有數千萬噸的失效電子設備被送入垃圾填埋場。
研究配圖- 2:循環電負載過程中c 域的形成
在這項研究中,來自該校航空航天、機械和機電工程學院的研究團隊,在先進的原位透射電子顯微鏡的幫助下,成功地觀察到了鐵電疲勞的產生,且精度達到了納米/ 原子級。
在近日發表於《自然通訊》(Nature Communications)期刊上的一篇論文中,研究團隊詳細介紹了他們的這項新發現。通過了解該現象的發生機理,有助於我們在未來設計和製造出更好的鐵電納米器件。
研究配圖- 3:週期性點負載下,疇壁上的電荷積累狀況。
研究合著者、來自悉尼大學納米研究所的Xiaozhou Liao 教授稱:“這是一項重大的科學研究突破,因其清楚地表明了納米級的鐵電降解過程”。
首席研究員Qianwei Huang 博士稱:“儘管人們早已知道鐵電疲勞會縮短電子設備的壽命,但由於缺乏合適的觀察技術,我們一直沒能對它的形成機理有更深入的了解”。
研究配圖- 4:通過補償電荷使c 結構域穩定,以及在電負載下的凍結行為。
研究合著者Zizi Chen 博士補充道:基於此,我們希望能夠為開發出壽命更長的設備、及相關工程設計而提供科學的指導。
此外這項研究發現,界面也可能在實質上加速鐵電性能的滑坡,因此我們需要對這些過程有更深入的了解,才能達成最佳的設備性能。