數學家證明閃存記憶單元缺陷可充當指紋 數學家證明閃存記憶單元缺陷可充當指紋 2019-10-17 Comments 0 Comment 信息和通信設備如智能手機已經普及,防止它們被盜或被纂改變得日益重要。我們需要有一種方法能精確識別每一個設備。現有的識別方法都能被纂改。俄羅斯人民友誼大學的數學家在《IEEE Access》期刊上發表研究,證明閃存記憶單元中的缺陷具有唯一性,可充當指紋去精確識別電子設備。 新發現的方法可創造出一種無法被偽造的電子閃存鑰匙。閃存記憶單元在大量的讀寫週期之後會不可避免的出現損傷導致芯片性能下降。 研究人員利用Raspberry Pi 測試發現,這種積累的損傷幾乎不可能有兩個會是相同的,而且它們具有長期的不變性。 分享此文:分享到 Twitter(在新視窗中開啟)按一下以分享至 Facebook(在新視窗中開啟)分享到 WhatsApp(在新視窗中開啟)按一下以分享到 Telegram(在新視窗中開啟)分享到 Pinterest(在新視窗中開啟)分享到 Reddit(在新視窗中開啟)按一下即可以電子郵件傳送連結給朋友(在新視窗中開啟)點這裡列印(在新視窗中開啟) 相關